Uzyskanie patentów krajowych i międzynarodowych na metody i układy do pomiaru parametrów cieplnych elementów elektronicznych
Program:
PATENT PLUS
Termin:
01.06.2012 - 30.11.2019
Instytucja finansująca:
NCBiR
Kierownik projektu:
prof. dr hab. inż. Krzysztof Górecki