Uzyskanie patentów krajowych i międzynarodowych na metody i układy do pomiaru parametrów cieplnych elementów elektronicznych

Program: 

PATENT PLUS

Termin: 

01.06.2012 - 30.11.2019

Instytucja finansująca: 

NCBiR

Kierownik projektu: 

prof. dr hab. inż. Krzysztof Górecki
Wprowadzenie:
i.wierzbowska 05.10.2021
Ostatnia modyfikacja:
i.wierzbowska 05.10.2021