Źródło mierzące Keithley 2602A, 2602B

Pomiar charakterystyk statycznych elementów elektronicznych metodą ciągła i impulsową

Wydział:

Wydział Elektryczny

metoda impulsowa, metoda ciągła, elementy elektroniczne

dr inż. Damian Bisewski,
e-mail: d.bisewskiwe.am.gdynia.pl,
tel. 58 5586 417